電子交換機
1960年代後半、新人発表会。
新人の早期育成と言うことで大々的に実施。
シミュレーションプログラムについて発表。
本シミュレーションプログラムは、不良素子(故障による障害箇所)の早期発見について、座標概念を導入した辞書の作成である。
内容的には、パラメタによって変化させるいろいろな素子の動作特性を作成し、故障が生じた場合に、その素子によって、それ以下の変化を受けるであろうと考えられるパタ-ンを先ず想定し、その最後のパターンからソ-テイングし、逆に糸をたずり該当する不良原因箇所を検出する手法である。
先ず、正常時の動作特性を辞書として作成しておく。
次に、誤動作した場合のパタ-ンをシミュレーションプログラムによって、正常時の辞書と同一のパタ-ンでシミュレ-ションする。
即ち、誤りがあれば座標は崩れ、辞書からその素子を発見することが出来る。
座標は、次元が大きいほど精度が良く、一般的には4座標で十分といわれている。
座標そのものはn次元考えられ、一般的な話しとして、素子が一つのパタ-ンで一つ変化するならばn次元=素子名数で1対1になる。
しかしながら実際には、n次元が素子名より少ないためブロック単位として、その単位内(パッケ-ジ)に不良があると判断する。
つまり、テスト座標が10回ならばn座標となり1/10×nの精度、数学的には1/10nと言われている。
従って、3~4座標で十分と言えるがテストパタ-ンのとり方が非常に難しい。
アメリカでは実際の回路素子を壊してパタ-ン作りを行いより精度向上を図っていると聞いている。
さすがにお金持ちの国アメリカならではの話しである。
これは電子交換機の障害対策と言うことですがほとんど覚えておりません。
本当に理解して仕事をしていたのだろうか心配ですね。