stack式は歪の倍率と同時に全ての条件が増加(悪化)している
図82の場合で
①残留ノイズ.....スタック 555μV 通常式 110μV (TRUErms)
②入力容量...... 2160PF 20PF (端子C含む)
③帯域幅-3dB...... 82.2KHz . 2622KHz
②の影響で600Ω信号源ドライブでLME49710では-3dB/82KHz
となる(stack比率の制約上600Ω以下にできない)
①でstackと通常が5X差になっているがftの大差でノイズ密度の差
はもっとおおきくて歪測定時の残留ノイズ指示も100倍あり20KHzの
歪を測るとアナリシス機能の無い場合の指示では0.015%程度以下にならない
図82の場合で
①残留ノイズ.....スタック 555μV 通常式 110μV (TRUErms)
②入力容量...... 2160PF 20PF (端子C含む)
③帯域幅-3dB...... 82.2KHz . 2622KHz
②の影響で600Ω信号源ドライブでLME49710では-3dB/82KHz
となる(stack比率の制約上600Ω以下にできない)
①でstackと通常が5X差になっているがftの大差でノイズ密度の差
はもっとおおきくて歪測定時の残留ノイズ指示も100倍あり20KHzの
歪を測るとアナリシス機能の無い場合の指示では0.015%程度以下にならない