DCA75 半導体アナライザ MOS-FET編

BJT、J-FETに続き今回はMOS-FETの特性測定をしてみた。

サンプルのデバイスは２N７０００とBS１７０の二種類。　
デバイスの判定結果は以下のとおり
■２N７０００　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　■BS１７０


Id/Vgsの特性・・・Vdsを４パターン設定して計測している


Id/Vdsの特性・・・トレースラインの下側が２N７０００、上がBS１７０
　Vgs(ON)電圧の前後が測定開始点、Vgsの最終測定値はId/Vgs測定時の終了点と同じ


今回の２サンプル、定格の似た（先輩、後輩の関係？）ものを選定してみた。
大きく違うのはピン配置ぐらい。　どちらも入手については問題ないデバイスである。

参考：D-MOSを試してみたが何回試してもLEDの判定であった。

富士山が見える山をあるく 満観峰＋花沢山

前回までは富士山の東側が中心であったが、今回は富士山の西側へ移動してみた。

【平成２５年２月２２日（金）】の記録
・目的地は日本坂峠、満観峰、花沢山
　※花沢山の名前は地理院の地図には表記なし

午前８時０分：法華寺入口脇から日本坂峠に向かい歩を進める
　間もなくお寺の墓地裏を通り抜け山道へ入る。
　■＜３０分＞
午前８時３０分：日本坂峠到着。南へ行けば花沢山、北へ行けば満観峰。
　ここでGPS電池切れorz電池交換、コンパス校正、高度校正を実施。


午前８時４５分：満観峰に向かう。
　道は良く整備されているが、コンクリート擬木の土留め箇所の段差が結構キツイところあり。
この擬木は断面が丸いため、上りのときは気にならなかったが下り道ではアクシデントに遭遇・・・

　途中の景観は尾根道をひたすら歩くので眺望が良いことを期待したが、耕作放棄？
された茶の木が人の背丈よりも伸びているためほとんど景観なし、残念。

・・・それにしてもアップ・ダウンが結構あり、山をいくつも超える感覚で満観峰へ到達
　■＜５５分＞
午前９時４０分：満観峰の山頂着。　
　本日の一番乗りか？　その後の登頂者二名
　撮影コンディションは残念ながらＮＧ



午前１０時１５分：山頂から往路をたどり日本坂峠へ向かう
　下る途中、段差の大きいコンクリート擬木の土留めで足を滑らせ谷側へ転落！
一回転して止まったが、藪の上だったので怪我なし。
　■＜４５分＞
午前１１時０分：日本坂峠に到着、花沢山へ向かう

　花沢山の山頂へ向かうコースは、前半は直登コース、露出した木の根っこの間を歩く。
山肌を巻いて行くコースではないので健脚向きか。
　後半は尾根伝いの道となるが、一箇所だけ道幅が狭く両側が急峻に谷へ落ち込む箇所あり。
そこには道のど真ん中に木が一本あり、通せんぼをしている。
　そこで足を滑らせたら左右どちらかの谷へ落ちて行方不明者になってしまいそうな・・・
　■＜２５分＞
午前１１時２５分：花沢山の山頂へ到着　　　　↓航空灯台跡の基礎が四カ所残っている


午前１１時５０分：花沢山の山頂から帰路へ
　撮影ポイントを検討しながら下る。
　↓東名高速道路の日本坂トンネルがこの山の下を通っている


　■＜３５分＞
午後０時２５分：日本坂峠
　■＜２０分＞
午後０時４５分：法華寺

反省：富士山から少々離れすぎの感あり。次回はもう少し東へ移動してみよう。

H26.4.27
　Blog移転に伴うHTMLの不具合を修正