特徴量

US9916965(KLA TENCOR CORP [US])
[0059] Deep learning is part of a broader family of machine learning methods based on learning representations of data.
【００５７】
  深層学習は、データの学習表現に基づく機械学習法の広範なグループの部分である。

An observation (e.g., an image) can be represented in many ways such as a vector of intensity values per pixel, or in a more abstract way as a set of edges, regions of particular shape, etc.
観察（例えば、画像）は、ピクセルあたりの強度値のベクトルなどの多くのやり方、またはエッジのセット、特定の形状の領域などのより抽象的なやり方で表すことができる。

Some representations are better than others at simplifying the learning task (e.g., face recognition or facial expression recognition).
いくつかの表現は、学習タスク（例えば、顔認識または表情認識）を単純化することにおいて他の表現よりも優れている。

One of the promises of deep learning is replacing handcrafted features with efficient algorithms for unsupervised or semi-supervised feature learning and hierarchical feature extraction.
深層学習の有望な点の１つは、人手による特徴量（ｈａｎｄｃｒａｆｔｅｄ  ｆｅａｔｕｒｅ）を教師なしまたは半教師ありの特徴部学習および階層特徴部抽出のための効率的なアルゴリズムで置き換えることである。

US9922269(KLA TENCOR CORP [US])
[0034] The one or more attributes using for grouping defects
【００３５】
  欠陥のグループ分けに用いられる一通り又は複数通りの属性の例としては、

may include, but are not limited to, image feature amounts, defect coordinates, composition analysis results, manufacture initiation history data, or machine QC (Quality Control) data.
画像特徴量、欠陥座標、組成分析結果、製造開始履歴データ、マシンＱＣ（品質管理）データ等がある。

Further, the one or more attributes
更に、そうした一通り又は複数通りの属性は、

may be obtained from multiple types of defect inspection tools or systems, such as, but not limited to, an optical or SEM foreign matter inspection machine, a pattern inspection machine, a defect review machine, SPM, or an elemental analysis machine.
複数種類の欠陥検査ツール又はシステム、例えば光学式又はＳＥＭ式異物検査機、パターン検査機、欠陥レビュー機、ＳＰＭ、分子分析機等から得ればよい。

Attributes suitable for classification of defects is described in U.S. Pat. No. 7,602,962, issued on Oct. 13, 2009, which is incorporated herein by reference in the entirety.
欠陥分類に適する属性については２００９年１０月１３日付特許文献１にて記述されているので、この参照を以てその全容を本願に繰り入れることにする。

US11047806(KLA TENCOR CORP [US])
[0022] In some examples, defect information associated with defects identified by optical inspection is sampled to generate a diversity set of defects of interest (DOIs).
【００２３】
  一部の例では、光学的検査によって識別された欠陥に関連する欠陥情報は、注目すべき重要な欠陥（ＤＯＩ）のダイバーシティセットを生成するためにサンプリングされる。

In some examples, the defects are binned and a few defects are selected from each bin to generate the diversity set of DOIs.
一部の例では、欠陥がビニングされ、各ビンから数個の欠陥が選択されてＤＯＩのダイバーシティセットを生成する。

Defect verification measurements are performed on the diversity set of DOIs.
欠陥検証測定がＤＯＩのダイバーシティセットに実行される。

Defect verification data from the diversity set of DOIs, any other set of verified defects, or a combination thereof,
ＤＯＩのダイバーシティセット、検証済み欠陥の任意の他のセット、またはそれらの組み合わせからの欠陥検証データが、

are mapped to the saved through focus defect image patches and corresponding feature vectors.
セーブされたスルーフォーカス欠陥イメージパッチおよび対応する特徴量ベクトルにマッピングされる。

The defect verification data and the corresponding through focus defect image patches and corresponding feature vectors are employed to train a nuisance elimination filter.
欠陥検証データおよび対応するスルーフォーカス欠陥イメージパッチおよび対応する特徴量ベクトルがニューサンス除去フィルタを訓練するために用いられる。

US2023043354(SANOFI SA [FR])
[0045] There may be further candidates for variables under tests that have an underlying extreme value distribution, for instance a Gumbel distribution.
【００３３】
  基礎となる極値分布、たとえばガンベル分布を有する検査対象の計量値に対して、さらなる候補があり得る。

In principle every feature that is a maximum or a minimum of at least one independent and identical distributed (iid) variable may be the variable under test.
原則的に、少なくとも１つの独立同一分布（ｉｉｄ）変数の最大または最小であるすべての特徴量が、検査対象の計量値であり得る。

US2018245154(UNIV DUKE [US])
[0235] The data for the quantified gene signatures are then processed using a computer and according to the probit classifier described above (equation 1) and reproduce here.
【０１８９】
  定量化された遺伝子シグネチャについてのデータは、その後、コンピュータを用い、上記のプロビット分類子（方程式１）に従って処理され、ここに再生される。

Normalized gene expression levels of each gene of the signature are the explanatory or independent variables or features used in the classifier,
シグネチャの各遺伝子の正規化遺伝子発現レベルは、分類子に用いられる説明変数または独立変数または特徴量であり、

in this example the general form of the classifier is a probit regression formulation:
この実施例において、分類子の一般的な型は、以下のプロビット回帰式である：

US2021365707(QUALCOMM INC [US])
[0182] The Harr features can be computed by calculating sums of image pixels within particular feature regions of the object image, such as those of the integral image.
【０１４２】
  Haar特徴量は、積分画像の特徴領域などの、物体画像の特定の特徴領域内の画像画素の合計を算出することによって計算され得る。

In faces, for example, a region with an eye is typically darker than a region with a nose bridge or cheeks.
顔では、たとえば、目のある領域は通常、鼻梁または頬のある領域より暗い。

The Haar features can be selected by a learning algorithm (e.g., an Adaboost learning algorithm) that selects the best features and/or trains classifiers that use them,
Haar特徴量は、最良の特徴を選択する、および/またはそれらを使用する分類器を訓練する、学習アルゴリズム(たとえば、Adaboost学習アルゴリズム)によって選択されてもよく、

and can be used to classify a window as a face (or other object) window or a non-face window effectively with a cascaded classifier.
カスケード分類器を用いて顔(または他の物体)のウィンドウまたは顔ではないウィンドウを実質的に分類するために使用されてもよい。

A cascaded classifier includes multiple classifiers combined in a cascade,
カスケード分類器は、カスケード形式で組み合わせられる複数の分類器を含み、

which allows background regions of the image to be quickly discarded while performing more computation on object-like regions. 
これは、物体のような領域に対してより多くの計算を実行しながら、画像の背景領域が速やかに廃棄されることを可能にする。

US11418773(PLATO SYSTEMS INC [US])
[0146] Neural networks utilize features for analyzing the data to generate assessments (e.g., recognize units of speech).
【０１１５】
  ニューラルネットワークは、データを解析して評価を生成する（例えば、音声の単位を認識する）べく特徴量を利用する。

A feature is an individual measurable property of a phenomenon being observed.
特徴量とは、観察される現象の個々の測定可能な性質のことである。

The concept of feature is related to that of an explanatory variable used in statistical techniques such as linear regression.
特徴量の概念は、線形回帰などの統計技術で用いられる説明変数の概念に関連している。

Further, deep features represent the output of nodes in hidden layers of the deep neural network.
さらに、深層特徴量は、深層ニューラルネットワークの隠れ層のノードの出力を表している。

発生した欠陥

US11274238(HONEYWELL INT INC [US])
[0316] There are several advantages that may arise from circuit interface locations being coupled in parallel with other circuit interface locations.
【０２９３】
  回路インターフェース位置が他の回路インターフェース位置と並列に連結されていることから生じ得るいくつかの利点がある。

One advantage may be that resilience is provided in the system since a fault associated with or suffered at one circuit interface location will not impact other circuit interface locations.
１つの利点は、１つの回路インターフェース位置に関連した又はそこに発生した欠陥が、他の回路インターフェース位置に影響しないので、システム内に弾力性が提供されることであり得る。

US2022145494(LEADING EDGE CRYSTAL TECH INC [US])
[0006] Producing a ribbon in one machine and then treating this ribbon using a different machine is inefficient and increases manufacturing costs.
【０００６】
  １台の機械でリボンを作り、別の機械でリボンを処理することは、効率が悪く、製造コストも高くなる。

Using separate machines also increases contamination or generated defects, which affects performance of the solar cell or other device.
また、別の機械を使用すると、汚染や発生した欠陥が増加し、太陽電池などの性能に影響する。

Improved systems and methods are needed.
改善されたシステムと方法が求められる。

US2022169549(AIR PROD & CHEM [US])
[0003] However, despite a long history of using H2 and N2, and the marketing of measuring systems and methods, there still exists a challenge in controlling the atmosphere to minimize glass defects that occur.
【０００３】
  しかしながら、Ｈ２およびＮ２を使用してきた長い歴史と、測定システムおよび方法のマーケティングにもかかわらず、発生したガラス欠陥を最小限に抑えるための雰囲気制御には依然として課題がある。

These challenges stem from the cost of purchasing online analytical equipment and the challenge in correlating the measurement with the defects that occur.
これらの課題は、オンライン分析装置の購入コスト、および測定値を発生した欠陥と相関させることの難しさに起因している。

The present invention seeks to overcome these challenges.
本発明は、これらの課題を克服しようとするものである。

US8989904(FANUC ROBOTICS AMERICA CORP [US])
[0043] Production Reporting:
【００２１】
  生産報告：

Production reporting provides the ability to maintain data related to each job/part cycle performed on the controller.
生産報告は、コントローラ上で行われる各々のジョブ／パート（ｊｏｂ／ｐａｒｔ）に関係したデータを維持する能力を提供する。

For example, for each job/part store data such as weld spots performed, volume of paint, amount of wire,
例えば、各々のジョブ／パート保存データに関して、行われた溶接スポット、塗料の体積、ワイヤの量、

amount of sealant, cycle time, carrier number, faults generated,
シーラントの量、サイクルタイム、キャリアの数、発生した欠陥、

time of start/end and any other event that should be collected when a job/part is performed by the robot.
開始／終了の時刻、および、ロボットによってジョブ／パートが行われる時に収集されるべき任意の他のイベントのようなデータ。

Like process data, this data can be stored on the internal robot controller or can be sent to memory devices external to the controller.
プロセスデータのように、このデータは内部ロボットコントローラ上に記憶されることが可能であり、または、コントローラの外部の記憶装置に送られることが可能である。

US8824514(KLA TENCOR CORP [US])
[0039] In another aspect of the present invention, the detector 126 is configured to collect scattered light 118 from the optical crystal 116 .
【００３７】
  本発明の別の局面において、検出器１２６は、光学結晶１１６からの散乱光１１８を収集するように構成される。

As noted previously herein, the specular portions of the fundamental laser beam 104 , auxiliary light beam 112 , and generated alternate light 117 may exit the optical crystal 116 together, as illustrated in FIG. 1.
本明細書中に既述したように、基本レーザビーム１０４、補助光ビーム１１２および生成された別の光１１７の反射部は、図１に示すように共に光学結晶１１６から退出し得る。

Defects within the optical crystal 116 , however, may scatter light out of the specular portions of the fundamental 104 , auxiliary 112 , and/or alternate 117 light beams.
しかし、光学結晶１１６内の欠陥は、基本光ビーム１０４、補助１１２光ビームおよび／または別の１１７光ビームの反射部からの光を散乱させ得る。

These defects may be the created by the degradation of the frequency conversion crystal site as a result of fundamental laser light 104 exposure.
これらの欠陥は、基本レーザ光１０４への露出の結果、周波数変換結晶位置の劣化に起因して発生し得る。

Upon scattering off of the generated defects, portions of the fundamental 104 , auxiliary 112 , and/or alternate 117 light beams may be diverted along a direction arranged at some angle with respect to the crystal pathway 109 .
上記発生した欠陥から散乱した後、基本光ビーム１０４、補助光ビーム１１２および／または別の１１７光ビームの部分は、結晶経路１０９に対して一定角度で配置された方向に沿って方向転換され得る。

In this manner, fundamental 104 , auxiliary 112 , and/or alternate 117 light may form a scattered beam 118 ,
このようにして、基本光１０４、補助光１１２および／または別の光１１７は、散乱ビーム１１８を形成し得る。

which may include some combination of the fundamental, auxiliary and/or alternate light.
散乱ビーム１１８は、基本光、補助光および／または別の光の何らかの組み合わせを含み得る。

光空間通信

free space optics (fso)、　双方向光空間通信システムの通信品質の検討

Free-space optical communication, Wikipedia

Free-space optical communication (FSO) is an optical communication technology that uses light propagating in free space to wirelessly transmit data for telecommunications or computer networking. "Free space" means air, outer space, vacuum, or something similar. This contrasts with using solids such as optical fiber cable.

The technology is useful where the physical connections are impractical due to high costs or other considerations.

US11079542(HONEYWELL INT INC [US])
[0018] In certain embodiments, entangled photons may be generated through a spontaneous parametric degenerate down-conversion of pump photons, also known as degenerate difference frequency generation.
【００１８】
    特定の実施形態では、もつれ光子は、縮退差周波生成としても知られるポンプ光子の自発的なパラメトリック縮退下方変換によって発生し得る。

Typically, the above method for photon generation may yield entangled photons that have orthogonal polarizations to one another.
通常は、上記の光子生成のための方法は、互いに直交する偏光を有するもつれ光子をもたらし得る。

Typically, free-space optics are used to separate the entangled photons and convert them into the same polarization state for use within a clock synchronization scheme.
通常は、光空間通信は、時計同期方式内で使用するために、もつれ光子を分離して同じ偏光状態に変換するように使用される。

Embodiments described herein provide a chip-scale photonic integrated circuit having on-chip guided wave photonics for separating the entangled photons and converting the separated photons into the same polarization state.
本明細書に記載される実施形態は、もつれ光子を分離し、分離した光子を同じ偏光状態に変換するためのオンチップ誘導波フォトニックを有するチップスケールフォトニック集積回路を提供する。

US2023012584(MITSUBISHI ELECTRIC CORP [JP])
[0004] Optical space communication uses a light having a shorter wavelength as a carrier than that in microwave wireless communication, and can efficiently transmit light with suppressed beam spread. Therefore, application of the optical space communication to feeder link of next-generation geostationary satellites has been studied (See, for example, Non-Patent Literature 1.
【０００２】
  光空間通信は、マイクロ波無線通信に比べてキャリアである光の波長が短く、ビームの広がりを抑えた効率的な光の伝送が可能であるため、次世代の静止衛星のフィーダリングへの適用が検討されている（例えば、非特許文献１参照）。

US11522609(SONY GROUP CORP [JP])
[0057] The communication system 1 includes a plurality of communication devices capable of performing the free-space optical communication, and the communication devices perform the free-space optical communication with one another.
【００２１】
  通信システム１は、空間光通信が可能な複数の通信装置を備え、通信装置間で空間光通信を行う。

The term “free-space optical communication” refers herein to wireless communication performed using light such as infrared light or visible light (for example, an electromagnetic wave having a wavelength ranging from that of infrared rays to that of visible rays).
ここで、空間光通信とは、赤外光や可視光等の光（例えば、赤外線から可視光線までの間の波長の電磁波）を使って行われる無線通信のことである。

The term “free-space optical communication” can also be called “optical space communication” or “optical wireless communication”.
空間光通信は、「光空間通信」或いは「光無線通信」と言い換えることができる。

The light used for the free-space optical communication may be laser light or synchrotron radiation.
ここで、空間光通信に使用される光は、レーザー光であってもよいし、放射光であってもよい。

In the case of using the infrared light as the light for the free-space optical communication, the light used for the free-space optical communication may be light having a wavelength in a 1500 nm band longer than a wavelength in a 790 nm band used for a compact disc (CD).
なお、空間光通信に使用する光を赤外光とする場合、空間光通信に使用される光は、ＣＤ（Compact  Disc）に使用される７９０ｎｍ帯の波長の光よりも更に波長が長い１５００ｎｍ帯の波長の光であってもよい。

US2022368417(NIPPON TELEGRAPH & TELEPHONE [JP])
[0001] The present invention relates to an optical space communication system and an optical space communication method.
【０００１】
  本発明は、光空間通信システム及び光空間通信方法に関する。

BACKGROUND ART

[0002] Space communication in which radio waves or light beams are directly transmitted without using wires such as copper wires or optical fibers as a signal medium allow installation locations of terminal stations to be freely moved. Furthermore, work for constructing transmission paths can be reduced.
【背景技術】
【０００２】
  銅線や光ファイバ等の有線を信号媒体とせず、電波や光を直接伝送する空間通信は、端末局の設置場所を自由に移動させることができる。さらに、伝送線路を構築するための稼働を低減することもできる。

ｄｑ軸電流

US9475403(DEERE & CO [US])
[0132] In an example embodiment, a torque command generation module 805 is coupled to a d-q axis current generation manager 809 (e.g., d-q axis current generation look-up tables).
【００９６】
  例示の一実施形態では、トルク指令生成モジュール８０５は、ｄｑ軸電流の生成管理プログラム８０９（例えばｄｑ軸電流生成のルックアップ表）に結合される。

The d-q axis current refers to the direct axis current and the quadrature axis current as applicable in the context of vector-controlled alternating current machines, such as the motor 817 .
ｄｑ軸電流は、電動機８１７などのベクトル制御の交流電流機械の文脈に当てはまる直軸電流および横軸電流を指す。

The output of the d-q axis current generation manager 809 (d-q axis current commands iq_cmd and id_cmd) and the output of a current adjustment module 807 (e.g., d-q axis current adjustment module 807 ) are fed to a summer 819 .
ｄｑ軸電流の生成管理プログラム８０９の出力（ｄｑ軸電流の指令ｉｑ＿ｃｍｄおよびｉｄ＿ｃｍｄ）および電流調節モジュール８０７（例えばｄｑ軸電流の調節モジュール８０７）の出力は、加算器８１９に供給される。

In turn, one or more outputs (e.g., direct axis current data (id*) and quadrature axis current data (iq*)) of the summer 819 are provided or coupled to a current regulation controller 811 .
その結果として、加算器８１９の１つまたは複数の出力（例えば直軸電流データ（ｉｄ^＊）および横軸電流データ（ｉｑ^＊））が、電流調整コントローラ８１１に供給される、または結合される。

While the term current command is used, it should be understood that current command refers to a target current value.
電流の指令という用語が用いられているが、電流の指令は、目標電流値を指すことを理解されたい。

US8450962(DEERE & CO [US])
[0063] One or more outputs of the calculation module 110 may be transmitted, output, fed, sent, and/or otherwise communicated to the dq-axis current generation manager 109 .
【００５７】
  [0063]計算モジュール１１０の１つまたは複数の出力をｄｑ軸電流生成マネージャ１０９に伝送し、出力し、供給し、送り、かつ／あるいは他の方法で伝達してもよい。

サブキャリア多重化

US10419109(CIENA CORP [US])
[0055] As noted above, the transmit DSP 214 may be operative to perform subcarrier multiplexing.
【００５５】
  上述したように、送信DSP214は、サブキャリア多重化を行ことができるように構成されていてもよい。

Thus, the symbols 212 may be divided into P parallel streams of symbols, where P>1, and each stream may be modulated onto a separate subcarrier frequency of the optical carrier 242 .
このため、シンボル212をP個の並行シンボルストリームに分割してもよく（P＞1）、それぞれのストリームを光信号キャリア242の別のサブキャリア周波数上に変調してもよい。

At a particular timeslot, t, the digital drive signals 216 , 218 , 220 , 222 corresponding to the Kth subcarrier may be denoted, collectively, as SK (t), for K=1 . . . N, and where N≥P.
特定のタイムスロットtにおいて、K番目のサブキャリアに対応するデジタル駆動信号216，218，220，222は、K=1・・・N（N≧P）に対してまとめてS_K(t)として表すことができる。

For simplicity, it may be assumed that each one of the N FDM subcarriers is used transmit a separate stream of symbols, such that P=N.
簡略化のために、P=NとなるようにN個のFDMサブキャリアのそれぞれが別のシンボルストリームを送信するために使用されるものと考えることができる。