ちょっと宣伝です.公的なことですが,私的なココに掲載します.
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”これからの信頼性評価の進め方”として,フォーラムを開催します.
発表3件とパネルディスカッションです.
2015年11月19日(木) 10:00~12:30
大阪中央電気倶楽部 5階 513会議室
信頼性学会の個人会員 :無料
電子情報通信学会の個人会員:無料
上記会員以外の方々 :1,000円
日本信頼性学会ホームページの申込フォームからご予約下さい.
※ 電子情報通信学会員の方は,備考欄にその旨ご記入ください.
発表
① 信頼性試験研究会 15年の歩み
松岡 敏成(三菱電機株式会社)
② HASTとAir-HASTを用いた耐湿加速評価 ~Au-Al合金層のBr腐食を事例に~
西原 麻友子(株式会社 村田製作所)
③ 電子機器の寿命末期時の安全性評価
本山 晃(M.A信頼性技術オフィス 代表)
パネル討論 「これからの信頼性評価の進め方」
コーディネータ:貝瀬 徹 日本信頼性学会関西支部長(兵庫県立大学大学院教授)
パネラー :研究発表者3名
質疑等 :会場の参加者