様々な物が壊れるのはしかたないとしても、こんな所が壊れるのか、というようなところが
壊れてくれます。
手持ちのテスターも、トランジスタのhFEを測定するのに使っていましたが、突然動作
しなくなりました。どうも接点に足が当たっていないような様子ですが、構造に問題がありました。
以前から使い辛いと思っていたのですが、テスタに付けられているトランジスタチェック用の
端子は奥行きが13mm以上もあります。
ということは、足が長い新品でもかなり置くまで差し込まないと接触しませんが、1度基板に
つけたものでは、当然ながら足が短いので届かないことになります。
これは不便でしかたないので、壊れたのを良い機会として改造することにしました。
ICソケットの丸ピン端子を利用して、コネクタにしました。でも4本あります。おかしいと思われるかもしれませんが、
国産の物は大概、ベースが端にありますが、ヨーロッパの物やアメリカの物はベースが中央なので、このように
コネクタの位置も増えているというわけです。
端子部分が表に出てきたので、これで足を切ってしまったトランジスタでも簡単に測定できるようになりました。
というか、どうして最初からこうなっていないのでしょうね。
使う事を考えていない設計？としか思えてしかたないのですが。
