かりおかの実験室

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トランジスタの微妙な不良

2013年10月14日 | 製作

トランジスタのhFEを測定するための、簡単な補助基盤を製作しました。
20131014a
電源と電圧計を接続し、ピンソケットにトランジスタを差し込みます。
電圧計に”150mV”と表示されたら、このトランジスタのhFEは150、"170mV"と表示されたら170となる仕組みです。
20131014b
実は、ある回路を実験中に、奇妙なことが起こりました。
回路に使われていた2個のトランジスタ(両方とも2SC1815)を互いに入れ替えたら、動かなくなるという事象です。

結論から言いますと、原因は、片方のトランジスタが不良だったというわけですが、こんな状況でした。
20131014c 20131014d
コレクタベース間のダイオードチェックは、0.65V程度でOK。
エミッタベース間は、1Vと表示でNG。

う~む、不良の具合が中途半端!(-_"-)

こんな場合、hFEはどうなるだろうかとチェックしてみたところ、151とでました。値としては正常値です。どうやら、hFEチェックだけでは、トランジスタの不良が発見できないこともあるようです。

今回作成の基盤は簡易なものなので、計測値の精度はどうかと思いますが、”同じ仕様のトランジスタでも、なるべくhFEが大きいものを選びたい”などということもありますので、今後も活用できることでしょう(・∀・)b

コメント (14)
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